Controllo di presenza dei wafer

Controllo di presenza dei wafer

Due affidabili versioni per il controllo di presenza

La soluzione – Versione 1

I nostri sensori capacitivi BCS dispongono di un'altezza di installazione molto compatta di 2,5 mm con un diametro di 18 mm. Sono quindi facilmente integrabili. È possibile una regolazione a lunga distanza tramite un amplificatore separato.

Le caratteristiche

  • altezza di installazione molto compatta (2,5 mm, diametro 18 mm)
  • linea di collegamento tripolare estremamente flessibile
  • piastra in acciaio, superficie attiva in PTFE
  • pratica regolazione a lunga distanza tramite amplificatore esterno

La soluzione – Versione 2

I nostri sensori optoelettronici BOH dispongono di un'altezza di installazione estremamente compatta di soli 1,7 mm. Sono perfettamente integrabili. E, tramite un amplificatore separato, si possono facilmente regolare anchea distanza.

Le particolarità

  • altezza di installazione molto compatta (2,5 mm, diametro 18 mm)
  • linea di collegamento tripolare estremamente flessibile
  • custodia in acciaio inossidabile
  • luce infrarossa
  • adatti per il vuoto
  • pratica regolazione a distanza tramite amplificatore esterno
Controllo di presenza dei wafer
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