Anmelden

Bitte melden Sie sich für eine individuelle Preisberechnung an.

Passwort vergessen?

Immer auf dem Laufenden bleiben

Mit unseren E-Mailings erhalten Sie regelmäßig aktuelle Informationen zu Produkten, Veranstaltungen, Services und über Balluff.

REGISTRIEREN SIE SICH ALS UNTERNEHMEN

Wir prüfen, ob Sie bereits eine Kundennummer bei uns haben, um Ihr neues Online-Konto damit zu verknüpfen.

Registrieren
Produkte
Service & Support
Branchen & Lösungen
Unternehmen

Wafer-Anwesenheit auf Endeffektor prüfen

Wafer-Anwesenheit auf Endeffektor prüfen

Ob der Wafer auf dem Endeffektor liegt, können Sie alternativ mit unseren kapazitiven Sensoren mit PTFE- Beschichtung kontrollieren. Diese erfassen ultradünne Wafer ausgesprochen zuverlässig, auch wenn diese durchhängen. Ihre Einbauhöhe beträgt nur 2,5 mm, sodass die Integration in die Endeffektoren gut gelingt. Durch ihren externen Verstärker ist es möglich, diese einfach fernzujustieren.

Die Besonderheiten

  • extrem flach – nur 2,5 mm
  • auch für verschiedene Oberflächen geeignet, da PTFE-Gehäuse
  • hohe Präzision auf kleinstem Bauraum

Downloads

  • Branchenbroschüre Halbleiterindustrie
Energy consumption labeling
Energy consumption labeling

EPREL - European Product Database for Energy Labeling

Haben Sie Fragen oder Anregungen? Wir sind für Sie da.

Sie haben mehrere Möglichkeiten mit uns in Kontakt zu treten. Wir freuen uns, Ihnen weiterhelfen zu können.

Kontaktieren Sie uns direkt per Telefon: +41 32 366 66 77


Balluff AG

Zürichstrasse 23c
2504 Biel

Kostenloses Produktmuster

Um ein kostenloses Musterprodukt in den Warenkorb legen zu können, müssen wir alle normalen Produkte aus dem Warenkorb entfernen. Sind Sie sicher, dass Sie fortfahren möchten