Réaliser une inspection fiable des wafers
Assurance qualité dans la production de wafers solaires
Le processus de fabrication des cellules solaires se fait en plusieurs couches, y compris les électrodes avant et arrière, une couche de silicium et une surface structurée avec un revêtement antireflet. Les fissures, rayures, inclusions ou autres défauts peuvent avoir un impact négatif important sur le fonctionnement et l'efficacité de la cellule solaire et doivent être détectés à un stade précoce. L'inspection est donc une étape cruciale dans la fabrication des cellules photovoltaïques.
Avec nos capteurs d'images SWIR (ShortWaveInfraRed) ouvre des possibilités d'application dans des plages de fréquences au-delà de la lumière visible, à des longueurs d'onde allant jusqu'à 1700 nm. Le silicium devient transparent dans la lumière SWIR, ce qui permet d'inspecter très facilement les structures des wafers.
Le standard ne correspond pas tout à fait à vos exigences ? Outre notre vaste portefeuille standard, nous proposons également des solutions sur mesure. Contactez-nous pour discuter de vos besoins
Benjamin Renz, Global Market Segment Manager, Semiconductors & Electronics
Les particularités
- utilisation de capteurs d'image CMOS de pointe
- Adapté aux conditions d'éclairage les plus difficiles : Rolling Shutter ou Global Shutter avec illumination back side
- puissance de calcul nécessaire réduite grâce au prétraitement des données sur FPGA dans la caméra
- possibilité d'adaptation individuelle à chaque cas d'application
Produits pour l'inspection des wafers
Laissez-nous tirer le meilleur parti de vos installations
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Industry brochure semiconductor industry
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Custom Design and Engineering – custom specific camera and sensor solutions
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Industrial cameras with SWIR and UV sensors