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Controllare la presenza di wafer

Controllare la presenza di wafer

I nostri sensori optoelettronici con elettronica remota determinano la presenza di un wafer o di un carrier in un canale visivo, servendosi di speciali ottiche con un punto luce piccolo. Le fotocellule a tasteggio progettate per il vuoto e disposte in custodie in acciaio inox possono essere avvitate semplicemente alla camera di processo che risulta così sigillata e non necessita più di pressacavo.

Caratteristiche speciali

  • micro-ottiche a punto luce piccolo
  • robusta custodia di acciaio con funzione sigillante
  • per applicazioni sotto vuoto fino a 1 × 10–9 mbar

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  • Industry brochure semiconductor industry
Energy consumption labeling
Energy consumption labeling

EPREL - European Product Database for Energy Labeling

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Balluff Automation S.r.l

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