Realizzare in modo affidabile l'ispezione dei wafer
Garanzia di qualità nella produzione di wafer solari
Il processo di produzione delle celle solari prevede diversi strati, tra cui gli elettrodi anteriori e posteriori, uno strato di silicio e una superficie strutturata con un rivestimento antiriflesso. Crepe, graffi, inclusioni o altri difetti possono avere un impatto negativo significativo sul funzionamento e sull'efficienza della cella solare e devono essere riconosciuti tempestivamente. L'ispezione è quindi una fase cruciale nella produzione di celle fotovoltaiche.
Con i nostri sensori di immagine SWIR (Short Wave InfraRed) apre possibilità di applicazione in gamme di frequenza che vanno oltre la luce visibile, con lunghezze d'onda fino a 1700 nm. Il silicio diventa trasparente alla luce SWIR, rendendo particolarmente facile l'ispezione delle strutture nel wafer.
![]()
Lo standard non soddisfa le vostre esigenze? Oltre al nostro ampio portafoglio standard, offriamo anche soluzioni personalizzate. Contattateci per discutere le vostre esigenze
Benjamin Renz, Global Market Segment Manager, Semiconduttori ed Elettronica
Caratteristiche speciali
- Utilizzo di sensori di immagine CMOS all'avanguardia
- Adatta alle condizioni di illuminazione più difficili: Rolling shutter o global shutter con illuminazione laterale posteriore
- Ridotta potenza di calcolo richiesta grazie alla pre-elaborazione dei dati su FPGA nella telecamera
- Possibilità di adattamento personalizzato alla rispettiva applicazione
Prodotti per l'ispezione dei wafer
Lasciateci ottenere il meglio dai vostri sistemi
Downloads
-
Industry brochure semiconductor industry
-
Custom Design and Engineering – custom specific camera and sensor solutions
-
Industrial cameras with SWIR and UV sensors