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Rilevare la presenza di wafer

Rilevare la presenza di wafer

Per un processo sicuro, controllate la presenza di un wafer o di un carrier utilizzando le nostre fotocellule a tasteggio ed emissione di gas ottimizzata. I sensori a raggi infrarossi con amplificatore esterno sono adatti all'utilizzo sotto vuoto. La loro struttura ultra piatta di appena 1,7 mm e la ridotta superficie di attacco le rendono perfette per lo spazio limitato nella camera sotto vuoto.

Caratteristiche speciali

  • salvaspazio grazie alla struttura ultra piatta
  • nessuna zona morta
  • molto resistenti grazie alla custodia in acciaio inox

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  • Industry brochure semiconductor industry