Přihlásit se

Přihlaste se prosím pro individuální kalkulaci ceny.

Zapomněli jste heslo?
Nemáte zřízený účet? Zaregistrujte se níže.

Zkontrolujeme, zda u nás již máte zákaznické číslo, abychom s ním mohli propojit Váš nový online účet.

Registrovat

Kontakt & Technická podpora

Produkty
Obory a Řešení
Služby
Podnik

Kontrola přítomnosti waferů

Kontrola přítomnosti waferů

Naše fotoelektrické snímače s oddělenou elektronikou používají speciální optiku s malým světelným bodem pro detekci přítomnosti waferu nebo nosiče přes pozorovací kanálek. Světelné snímače v pouzdru z ušlechtilé oceli navržené pro vakuum se jednoduše zašroubují do procesní komory. Tím se komora utěsní a kabelová průchodka již není potřeba.

Zvláštnosti

  • mikrooptika s malým světelným bodem
  • robustní ocelové pouzdro s těsnicí funkcí
  • pro vakuové aplikace do 1 × 10–9 mbar

Downloads

  • Industry brochure semiconductor industry

Máte nějaké dotazy nebo návrhy? Jsme tu pro vás.

Máte několik možností, jak se s námi spojit. Rádi Vám zodpovíme Vaše dotazy.


Balluff CZ s.r.o.

Pelušková 1400
198 00 Praha 9 - Kyje

Spojte se s námi:
[email protected]