Niezawodna realizacja kontroli płytek półprzewodnikowych
Zapewnienie jakości w produkcji wafli słonecznych
Proces produkcji ogniw słonecznych obejmuje kilka warstw, w tym przednie i tylne elektrody, warstwę krzemu i ustrukturyzowaną powierzchnię z powłoką antyrefleksyjną. Pęknięcia, rysy, wtrącenia lub inne defekty mogą mieć znaczący negatywny wpływ na działanie i wydajność ogniwa słonecznego i muszą zostać rozpoznane na wczesnym etapie. Kontrola jest zatem kluczowym krokiem w produkcji ogniw fotowoltaicznych.
Dzięki naszym czujnikom obrazu SWIR (SkrótkiWaveInfraRed) otwiera możliwości zastosowań w zakresach częstotliwości wykraczających poza światło widzialne przy długości fali do 1700nm. Krzem staje się przezroczysty w świetle SWIR, co szczególnie ułatwia kontrolę struktur w płytce.
Standard nie spełnia Twoich wymagań? Oprócz naszego szerokiego standardowego portfolio, oferujemy również rozwiązania dostosowane do indywidualnych potrzeb. Skontaktuj się z nami, aby omówić swoje wymagania.
Benjamin Renz, Global Market Segment Manager, Semiconductors & Electronics
Cechy szczególne
- Wykorzystanie najnowocześniejszych przetworników obrazu CMOS
- Możliwość pracy w najtrudniejszych warunkach oświetleniowych: Rolling shutter lub global shutter z tylnym oświetleniem bocznym
- Zmniejszona wymagana moc obliczeniowa dzięki wstępnemu przetwarzaniu danych na FPGA w kamerze
- Możliwość dostosowania do konkretnego zastosowania
Produkty do kontroli płytek półprzewodnikowych
Pozwól nam jak najlepiej wykorzystać Twoje systemy
Downloads
-
Industry brochure semiconductor industry
-
Custom Design and Engineering – custom specific camera and sensor solutions
-
Industrial cameras with SWIR and UV sensors