Spätné vysledovanie rámu waferov
Zaistite si transparentný proces tak, že rám wafera necháte spätne vysledovať pomocou našich systémov Vision. Na tieto účely rámy vybavíte čiarovými kódmi, ktoré systémy spoľahlivo skontrolujú. Takto vždy viete, či sa už wafer zbrúsil a oddelil.
Špeciálne vlastnosti
- spoľahlivé riešenie na spätné vysledovanie
- jednoduchá, intuitívna obsluha
Súvisiace témy
Downloads
-
Industry brochure semiconductor industry