Prihlásiť

Prihláste sa pre individuálny výpočet ceny.

Zabudli ste heslo?
REGISTRÁCIA AKO SPOLOČNOSŤ

Skontrolujeme, či už u nás máte číslo zákazníka, aby sme s ním mohli prepojiť Váš nový online účet.

Registrovať

Kontakt & Technická podpora

Produkty
Odvetvia a Riešenia
Služby
Spoločnosť

Kontrola prítomnosti waferov v koncovom efektore

Kontrola prítomnosti waferov v koncovom efektore

Či sa wafer nachádza v koncovom efektore, môžete alternatívne kontrolovať pomocou našich kapacitných snímačov s náterom PTFE. Tieto zaznamenávajú ultratenké wafery vyslovene spoľahlivo, aj keď sa prenášajú. Ich montážna výška je len 2,5 mm, vďaka čomu je ich integrácia do koncových efektorov bezproblémová. Vďaka externému zosilňovaču je možné ich jednoduché presné nastavenie.

Špeciálne vlastnosti

  • extrémne ploché – len 2,5 mm
  • vďaka aktívnemu krytu z PTFE vhodné aj pre rôzne povrchy
  • vysoká presnosť v najmenších inštalačných priestoroch

Downloads

  • Industry brochure semiconductor industry

Máte nejaké otázky alebo návrhy? Radi vám pomôžeme.

Môžete nás kontaktovať niekoľkými spôsobmi. Tešíme sa, že vám môžeme pomôcť.


Balluff Slovakia s.r.o.

Balluff Slovakia s.r.o.
Mlynské nivy 73,
Bratislava - mestská časť
Ružinov 821 05

Spojte sa s nami:
[email protected]